设备简介
Mini LED 晶圆AOI设备是在分选后段，对分选的片源替代人工目检，可以达到分选后的芯片进行视觉检测，将不良芯粒快速直接挑走。
设备亮点
①、关注要点检测：我们的晶圆检测设备专注于检测外观缺陷、排列不齐、角度歪斜、浮晶等问题。通过使用先进的视觉算法和图像处理技术，能够准确地识别和标记出这些缺陷，帮助生产线及时发现并解决潜在的质量问题；
②、快速挑选不良芯片：设备配备高速的挑选机械臂，一旦检测到有缺陷的芯片，能够快速、准确地将不良芯片从晶圆中分离出来，以确保只有高质量的芯片进入下一步的生产流程。这样可以大大提高生产效率，减少不良产品的流入；
③、替代质检人员：检测设备具备全面替代分选后面的质检人员的能力。通过自动化的检测和挑选系统，减少了人力资源的需求，并且在准确性和一致性方面具有优势，同时降低人为因素带来的误判和漏检，，提高生产线的效率和稳定性；
④、检测效率提高1倍：通过采用先进的检测算法和高速图像处理技术，相比市面上的其他目检设备，该晶圆检测设备的检测效率提高了1倍，从而提高了整体的生产效率和利润，大幅度缩短生产周期。
应用场景
Wafer：兼容4寸、6寸wafer，支持子母环、铁环形式
芯片：可兼容2mil—80mil芯片及封装片
无损对接自动上下料
—————————————————————————————————————————————————————————————————————————————————————
您好，由于部分商业案例详细技术信息，签署保密协议，无法网络展示！
如需要获取定制方案，请您联系手机&微信：181-2451-5629
在线咨询
电话联系